-
1 stuck-at fault
3.2 константная неисправность (stuck-at fault): Неисправность аппаратного средства, вызванная переходом элемента устройства в одно из неизменяемых состояний, например, при «залипании» контактов реле.
Источник: ГОСТ Р 53195.5-2010: Безопасность функциональная связанных с безопасностью зданий и сооружений систем. Часть 5. Меры по снижению риска, методы оценки оригинал документа
Англо-русский словарь нормативно-технической терминологии > stuck-at fault
-
2 stuck-at fault
-
3 stuck-on fault
contact fault — нарушение контакта; контактная неисправность
multiple-access fault — дефект типа "множественная выборка"
-
4 stuck-open fault
hard fault — устойчивая неисправность; отказ
branch-open fault — дефект типа "обрыв ветви"
-
5 stuck-at fault
contact fault — нарушение контакта; контактная неисправность
multiple-access fault — дефект типа "множественная выборка"
-
6 stuck-at fault
проф. залипание; константная (постоянная, перманентная) ошибка (неисправность, дефект)см. тж. bridging faultАнгло-русский толковый словарь терминов и сокращений по ВТ, Интернету и программированию. > stuck-at fault
-
7 stuck-at fault
Большой англо-русский и русско-английский словарь > stuck-at fault
-
8 stuck-on fault
константная неисправность типа залипания в открытом состоянииБольшой англо-русский и русско-английский словарь > stuck-on fault
-
9 stuck-open fault
константная неисправность типа обрыва (напр., на выходе микросхемы) ;
константная несиправность типа "постоянно отключенный затвор" (в МОП-схемах)Большой англо-русский и русско-английский словарь > stuck-open fault
-
10 stuck-at fault
1) Компьютерная техника: неисправность типа разрыв цепи2) Вычислительная техника: залипание, константная неисправность, неисправность типа залипания, ошибка типа залипания контактов3) Механика: неисправность типа застревания в одном состоянии4) Микроэлектроника: постоянная неисправность -
11 stuck-high fault
Микроэлектроника: неисправность, установленная в состояние 1 -
12 stuck-low fault
Микроэлектроника: неисправность, установленная в состояние 0 -
13 stuck-on fault
Вычислительная техника: константная неисправность типа залипания в открытом состоянии -
14 stuck-open fault
Вычислительная техника: константная неисправность типа "постоянно отключённый затвор" (в МОП-схемах), константная неисправность типа обрыва (напр. на выходе микросхемы) -
15 stuck-at fault
-
16 stuck-at fault
-
17 stuck-at fault
The New English-Russian Dictionary of Radio-electronics > stuck-at fault
-
18 stuck-at fault
константная неисправность, проф. неисправность типа залипания, залипаниеEnglish-Russian dictionary of computer science and programming > stuck-at fault
-
19 stuck-on fault
English-Russian dictionary of computer science and programming > stuck-on fault
-
20 stuck-open fault
константная неисправность типа обрыва (напр., на выходе микросхемы); константная неисправность типа "постоянно отключённый затвор" ( в МОП-схемах)English-Russian dictionary of computer science and programming > stuck-open fault
См. также в других словарях:
Stuck-at fault — A Stuck at fault is a particular fault model used by fault simulators and Automatic test pattern generation (ATPG) tools to mimic a manufacturing defect within an integrated circuit. Individual signals and pins are assumed to be stuck at Logical… … Wikipedia
Fault coverage — refers to the percentage of some type of fault that can be detected during the test of an electronic system, usually an integrated circuit. High fault coverage is particularly valuable during manufacturing test, and techniques such as Design For… … Wikipedia
Fault model — A fault model is an engineering model of something that could go wrong in the construction or operation of a piece of equipment. From the model, the designer or user can then predict the consequences of this particular fault. Fault models can be… … Wikipedia
Fault friction — describes the relation of friction to fault mechanics. Rock failure and associated earthquakes are very much a fractal operation (see Characteristic earthquakes). The process remains scale invariant down to the smallest crystal. Thus, the… … Wikipedia
Single Stuck Line — is a fault model used in digital circuits. It is used for post manufacturing testing, not design testing. The model assumes one line or node in the digital circuit is stuck at logic high or logic low. When a line is stuck it is called a fault.… … Wikipedia
Semiconductor fault diagnostics — are predictive software algorithms which are used to refine and localize the circuitry responsible for the failure of scan based devices. [cite conference| last=Crowell| first=G| coauthors=Press, R.| title=Using Scan Based Techniques for Fault… … Wikipedia
Automatic test pattern generation — ATPG (acronym for both Automatic Test Pattern Generation and Automatic Test Pattern Generator) is an electronic design automation method/technology used to find an input (or test) sequence that, when applied to a digital circuit, enables testers… … Wikipedia
Modèle de faute — Les modèles de faute sont des abstractions utilisées pour modéliser une défaut accidentel dans un circuit électronique (numérique). Chaque type de modèle de faute peut correspondre à plusieurs origines physiques différentes. Cette représentation… … Wikipédia en Français
Iddq testing — is a method for testing CMOS integrated circuits for the presence of manufacturing faults. It relies on measuring the supply current (Idd) in the quiescent state (when the circuit is not switching and inputs are held at static values). The… … Wikipedia
ГОСТ Р 53195.5-2010: Безопасность функциональная связанных с безопасностью зданий и сооружений систем. Часть 5. Меры по снижению риска, методы оценки — Терминология ГОСТ Р 53195.5 2010: Безопасность функциональная связанных с безопасностью зданий и сооружений систем. Часть 5. Меры по снижению риска, методы оценки оригинал документа: 3.1 антивалентные сигналы (antivalent signals): Два сигнала с… … Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации
Logic redundancy — occurs in a a digital gate network containing circuitry that does not affect the static logic function. There are several reasons why logic redundancy may exist. One reason is that it may have been added deliberately to suppress transient… … Wikipedia